ED-XRF

SPECTRO XEPOS (ED-XRF) stasjonærmodell er konstruert for krevende applikasjoner med høy følsomhet. Xepos gir svært lave deteksjonsgrenser for et bredt spekter av elementer.

May Kvalheim Bagge-Lund‘s Portrait

May Kvalheim Bagge-Lund

Produktsjef Analyse

+47 97117209
may.bagge-lund@holgerhartmann.no

Ønsker du mer informasjon eller en gratis online demo?

Nei, ta meg til nedlastning av dokument

Takk for interessen. Vi tar kontakt med deg innen kort tid

Den nyeste ED-XRFen fra Spectro!

Meget god følsomhet gir en forbedret presisjon på opptil faktor 3 – basis for høy nøyaktighet ved analyse av små til store elementkonsentrasjoner.

Mål lavere enn noen gang: Adaptiv eksitasjon, avansert røntgenrørdesign og et deteksjonssystem med svært høy kapasitet gir betydelig (typisk faktor 3) lavere deteksjonsgrenser for et bredt spekter av elementer.

Turboquant II-programvaren gir en helt ny mulighet til å analysere ukjente prøver, uavhengig av om de er flytende, faste eller i pulverform, om det er tre, blader, plast, olje, granitt eller glass..
 

XEPOS kan tilpasses dine analysebehov, og kommer i forskjellige utgaver tilpasset ulike elementgrupper og spesifikke matriks. Et nydesignet røntgenrør på 50W/60kV og en ny eksitasjonsteknologi sikrer optimale resultater - hver gang!

En ED-XRF er forbundet med betydelig lavere kostnader ved både innkjøp og bruk enn en bølgelengdedispersibel XRF.

Kontakt

Påmelding nyhetsbrev